[实用新型]一种芯片测试用恒力探针臂有效
| 申请号： | 202123140043.4 | 申请日： | 2021-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN219039176U | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 马超;江坤;黄秋元;周鹏 | 申请（专利权）人： | 武汉普赛斯电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R31/28 |
| 代理公司： | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 | 代理人： | 孙迪 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道3*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了芯片测试用恒力探针臂，包括基座、连接板、探针夹、第一弹性件及检测机构；连接板的一端铰接于基座、并可转动至第一位置和第二位置，连接板的另一端与探针夹固定连接；探针夹用于夹持探针；第一弹性件的一端与基座连接，第一弹性件的另一端与连接板连接；检测机构包括固定触头、活动触头、检测电源及提示件。本实用新型提出的技术方案的有益效果是：向下移动基座使探针与待检测的芯片接触，当探针与芯片之间产生接触压力时，连接板从第二位置转动至第一位置，从而固定触头与活动触头分离，以使检测电源与提示件电连接，提示件产生提示信号，从而基座停止继续下压，以防止探针与芯片之间的接触压力过大而影响探针的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 恒力 探针 | ||
【主权项】：
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