[发明专利]颗粒测量装置和颗粒测量方法在审
| 申请号： | 202180005328.0 | 申请日： | 2021-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN114424044A | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 坂东和奈;近藤郁;田渊拓哉;近藤聪太 | 申请（专利权）人： | 理音株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 吕琳;朴秀玉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 将照射光照射于流路，在向试样的流动方向虚拟延长后的位置，对从通过形成于规定区间内的检测区域的试样中所含的颗粒发出的散射光进行聚光并以规定的帧率进行拍摄。在此基础上，基于多个帧图像来计算出通过布朗运动而产生的颗粒的与流动方向垂直的方向的移动量。进而，为了对散焦位置处的因倍率而产生的图像上的移动量的误差进行校正，使用预先求出的校正值来校正该移动量，确定颗粒的粒径。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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