[发明专利]用于三维NAND存储器中的字线触点的阻挡层及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202180005399.0 申请日: 2021-12-22
公开(公告)号: CN114556564A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 徐玲;王迪;张中;周文犀 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11548;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L27/11575;H01L27/11582
代理公司: 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 代理人: 林锦辉;刘景峰
地址: 430000 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本公开内容提供了一种用于形成三维存储器器件的方法。该方法包括在垂直于衬底的第一方向上在衬底上设置交替电介质堆叠体;以及在交替电介质堆叠体中形成阶梯结构和分隔壁。阶梯结构与分隔壁在平行于衬底的第二方向上延伸,并且分隔壁与阶梯结构相邻。该方法还包括在阶梯结构上依次形成第一阻挡层和不同于第一阻挡层的第二阻挡层。该方法还包括在分隔壁中形成栅极线缝隙(GLS)开口。GLS开口在第一方向上穿透交替电介质堆叠体,并且在平行于衬底并且垂直于第二方向的第三方向上远离第二阻挡层。
搜索关键词: 用于 三维 nand 存储器 中的 触点 阻挡 及其 制造 方法
【主权项】:
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