[发明专利]涂抹压评价方法、涂抹压评价系统以及涂抹压评价系统中的适当范围的设定方法在审
申请号: | 202180028345.6 | 申请日: | 2021-05-12 |
公开(公告)号: | CN115397283A | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 谷田正弘;町田明子;武冈永里子;新井智大 | 申请(专利权)人: | 株式会社资生堂 |
主分类号: | A45D44/00 | 分类号: | A45D44/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 张洁;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的一个技术方案涉及的涂抹压评价方法包括:检测步骤,使用安装于使用者的上臂、前臂和手腕中的任一方的计测装置,根据计测值的变化,检测所述使用者用手在脸部涂抹化妆品时的涂抹压;比较步骤,比较根据所检测的所述计测值求出的值是否在适当范围内;和通知步骤,向所述使用者通知根据所述计测值求出的值是在所述适当范围之内还是之外。 | ||
搜索关键词: | 涂抹 评价 方法 系统 以及 中的 适当 范围 设定 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社资生堂,未经株式会社资生堂许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202180028345.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。