[发明专利]使用上行链路和下行链路测量的波束对选择在审

专利信息
申请号: 202180030431.0 申请日: 2021-05-06
公开(公告)号: CN115443617A 公开(公告)日: 2022-12-06
发明(设计)人: 张倩;周彦;骆涛;N·阿贝迪尼 申请(专利权)人: 高通股份有限公司
主分类号: H04B7/06 分类号: H04B7/06;H04B7/08
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 赵腾飞
地址: 美国加*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 概括而言,本公开内容的各个方面涉及无线通信。在一些方面中,用户设备(UE)可以在全双工通信模式下执行与自干扰测量(SIM)过程相关联的信道测量(CM)过程,以确定与UE的下行链路(DL)和上行链路(UL)(DL/UL)波束对相关联的下行链路信号与自干扰加噪声比;从基站接收与UE的DL/UL波束对的UL波束相关联的上行链路干扰信息,其中,上行链路干扰信息指示以下各项中的至少一项:由基站选择的最终DL/UL波束对;以及至少部分地基于CM过程和SIM过程来发送测量报告,其中,测量报告是至少部分地基于下行链路信号与自干扰加噪声比的。提供了众多其它方面。
搜索关键词: 使用 上行 下行 测量 波束 选择
【主权项】:
暂无信息
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