[发明专利]多指数误差外推法在审

专利信息
申请号: 202180040762.2 申请日: 2021-07-01
公开(公告)号: CN116018600A 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 蔡臻禹;西蒙·本杰明 申请(专利权)人: 牛津大学创新有限公司
主分类号: G06N10/00 分类号: G06N10/00
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 赵兴华
地址: 英国牛津郡牛津*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种在使用量子计算机时减少误差的方法,包括:S101,多次对量子位的状态执行第一运算21;其中第一运算21具有第一误差率32;S102,获得量子位的平均状态的第一测量;S103,将量子计算机的误差率从第一误差率32修改为第二误差率34;S104,多次对量子位的状态执行第二运算23;其中第二运算23具有第二误差率34;S105,获得量子位的平均状态的第二测量;S106,将量子计算机的误差率从第二误差率修改为第三误差率;S107,多次对量子位的状态执行第三运算;其中第三运算具有第三误差率;S108,获得量子位的平均状态的第三测量;S109,将量子计算机的误差率从第三误差率修改为第四误差率;S110,多次对量子位的状态执行第四运算;其中第四运算具有第四误差率;S111,获得量子位的平均状态的第四测量;S112,将第一、第二、第三和第四测量拟合到多指数衰变曲线35;以及S113,使用所拟合的曲线35来外推第五误差率37处的量子位的平均状态,其中第五误差率37低于第一、第二、第三和第四误差率。
搜索关键词: 指数 误差 外推法
【主权项】:
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