[发明专利]用于生产半导体晶片的方法在审
申请号: | 202180044647.2 | 申请日: | 2021-06-10 |
公开(公告)号: | CN115917058A | 公开(公告)日: | 2023-04-04 |
发明(设计)人: | T·米勒;M·格姆利希;G·基辛格;K·曼格尔贝格尔;M·什克罗鲍奈克 | 申请(专利权)人: | 硅电子股份公司 |
主分类号: | C30B15/00 | 分类号: | C30B15/00;C30B29/06;C30B33/02;C30B15/20 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 过晓东 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
本发明涉及生产单晶硅半导体晶片的方法,该方法包括:提供单晶硅衬底晶片,该衬底晶片包含浓度超过5x10 |
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搜索关键词: | 用于 生产 半导体 晶片 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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