[发明专利]用于样品分析的系统和方法在审
| 申请号： | 202180045455.3 | 申请日： | 2021-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN116018207A | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | Y·阿莱;T·科莫里;吉村彻;R·奇巴;J·哈夫 | 申请（专利权）人： | 雅培制药有限公司 |
| 主分类号： | B01L3/00 | 分类号： | B01L3/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 邹松青;郭帆扬 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开了使用测定表面、测定处理单元(APU)、测定处理系统(APS)和实验室系统的样品分析系统和方法。测定表面包括：样品处理部件，所述样品处理部件包括多个区域，所述多个区域包括至少一个洗涤区域和至少一个储存区域，所述储存区域被配置为容纳能够在磁力下移动通过所述区域的多个固体支持物；和检测部件，所述检测部件被配置为接收所述固体支持物。APU包括：测定表面接收部件；磁性元件，所述磁性元件被配置为生成可移动磁场；和一个或多个处理器，所述处理器被配置为移动所述磁场。APS包括一个或多个测定表面和APU。实验室系统包括一个或多个APS和用于平行处理的控制器。公开了样品体积减少和/或处理时间缩短和/或灵敏度更高的样品处理和检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 样品 分析 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于雅培制药有限公司，未经雅培制药有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202180045455.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
