[发明专利]GaN晶体和GaN衬底在审

专利信息
申请号: 202180051365.5 申请日: 2021-08-18
公开(公告)号: CN115885058A 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 塚田悠介;大岛祐一;江夏悠贵 申请(专利权)人: 三菱化学株式会社;国立研究开发法人物质•材料研究机构
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 李晓
地址: 日本国东京都千*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种GaN晶体,其可用于在如GaN‑HEMT这样的横向器件结构的氮化物半导体器件中应用的衬底;以及一种GaN衬底,其可用于如GaN‑HEMT这样的横向器件结构的氮化物半导体器件的制造。该GaN晶体具有5cm2以上的相对于(0001)晶面的倾斜为10度以下的表面,Mn浓度为1.0×1016atoms/cm3以上且小于1.0×1019atoms/cm3,总施主杂质浓度小于5.0×1016atoms/cm3
搜索关键词: gan 晶体 衬底
【主权项】:
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