[发明专利]超声保护膜检测和超声传感器校准在审
| 申请号： | 202180055475.9 | 申请日： | 2021-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN116171391A | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | C·徐;S·J·尹;C·佩雷兹萨埃比;H·V·潘查瓦;K·D·乔尔杰夫 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/52 | 分类号： | G01S7/52 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 安之斐 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一些公开的方法涉及在第一时间经由超声传感器系统获取第一(参考)超声信号，并且在第二时间经由超声传感器系统获取第二超声信号。此类方法可以涉及至少部分地基于第一超声信号和第二超声信号的比较来确定在第二时间一个或多个层是否驻留于玻璃盖板上。如果确定在第二时间一个或多个层驻留于玻璃盖板上，则一些方法可以涉及确定与一个或多个层的属性相对应的一个或多个信号特性，以及至少部分地基于一个或多个属性来确定一个或多个层是否与超声传感器系统兼容。如果是，则该方法可以涉及校准超声传感器系统。 | ||
| 搜索关键词： | 超声 保护膜 检测 传感器 校准 | ||
【主权项】：
暂无信息
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