[发明专利]光电半导体器件及其制造的方法在审

专利信息
申请号: 202180063491.2 申请日: 2021-09-08
公开(公告)号: CN116195079A 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: A·普福伊费尔;K·珀兹梅尔;C·克莱姆普 申请(专利权)人: 艾迈斯-欧司朗国际有限责任公司
主分类号: H01L33/62 分类号: H01L33/62
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 刘畅
地址: 德国雷*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提出了一种光电半导体器件(16),包括:‑层堆(9),其包括至少一个侧表面(9A)、第一主表面(9B)和第二主表面(90);‑布置在第一主表面(9B)上的第一接触装置(12),其被设置为用于电接触层堆(9)的第一半导体区域(4);‑布置在第二主表面(90)上的第二接触装置(17),其被设置为用于电接触层堆(9)的第二半导体区域(5)并具有辐射透射性;和‑布置在层堆(9)上的导电的边缘层(11),其从第二接触装置(17)经由侧表面(9A)延伸至第一主表面(9B),和‑布置在边缘层(11)和层堆(9)之间的第一介电层(10),其中第二主表面(90)未被第一介电层(10)覆盖。还提出了一种用于制造至少一个光电半导体器件的方法。
搜索关键词: 光电 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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