[发明专利]运算装置、表面粗糙度预测系统及运算方法在审

专利信息
申请号: 202180063555.9 申请日: 2021-09-13
公开(公告)号: CN116194853A 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 清水友己;洪荣杓 申请(专利权)人: 发那科株式会社
主分类号: G05B19/4155 分类号: G05B19/4155
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 刘煜
地址: 日本国山梨县南都留*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种根据物理量预测工件的表面粗糙度的运算装置(12),其具备:测定数据获取部(36),其获取测定数据(SRmea),该测定数据(SRmea)是由表面粗糙度测定装置测定的表面粗糙度;物理量获取部(38),其获取表示表面粗糙度的产生要因的物理量(PQ);第一振幅频谱变换部(40),其将测定数据(SRmea)变换为第一振幅频谱(F1);第二振幅频谱变换部(42),其将物理量(PQ)变换为第二振幅频谱(F2);以及系数计算部(44),其基于特定频率(FB)、第二振幅频谱(F2)、第一振幅频谱(F1)计算出系数(C)。
搜索关键词: 运算 装置 表面 粗糙 预测 系统 方法
【主权项】:
暂无信息
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