[发明专利]电子测试器在审
| 申请号： | 202180068810.9 | 申请日： | 2021-10-05 |
| 公开（公告）号： | CN116457670A | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | G·L·埃里克森二世;J·约万诺维奇 | 申请（专利权）人： | 雅赫测试系统公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 吴瑛 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 描述了一种测试装置。各种部件有助于测试装置的功能性，以便于保持真空的晶片封装的移动而无需人为监督。这些功能包括保持晶片封装完整的闩锁系统和检测和中继晶片封装中的压力的压力感测系统。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于雅赫测试系统公司，未经雅赫测试系统公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202180068810.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
