[发明专利]增强的SD-WAN路径质量测量和选择在审

专利信息
申请号: 202180073676.1 申请日: 2021-08-23
公开(公告)号: CN116530064A 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: C·蔡;P·关;L·王;L·张;S·库马尔;P·拉玛纳斯;S·纳拉扬赫德卡 申请(专利权)人: 帕洛阿尔托网络公司
主分类号: H04L45/12 分类号: H04L45/12;H04L45/247;H04L45/30;H04L45/76
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 徐红燕;吕传奇
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 公开了用于增强的软件定义的广域网(SD‑WAN)路径质量测量和选择的技术。在一些实施例中,一种用于增强的SD‑WAN路径质量测量和选择的系统/方法/计算机程序产品包括:在软件定义的广域网(SD‑WAN)接口处为多个网络路径中的每一个周期性地执行网络路径测量;如果所述网络路径测量超过所述多个网络路径中的一个或多个的阈值,则更新版本;以及根据应用策略,基于版本为会话选择多个网络路径之一。
搜索关键词: 增强 sd wan 路径 质量 测量 选择
【主权项】:
暂无信息
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