[发明专利]可重配置智能表面的探通参考信号反射的测量在审
| 申请号： | 202180094519.9 | 申请日： | 2021-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN116940858A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 段卫民;徐慧琳;任余维 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S5/02 | 分类号： | G01S5/02 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 郑一;唐杰敏 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 公开了用于通信的技术。在一方面，无线节点(例如，UE或BS)测量来自UE的第一SRS‑P的第一TOA、来自该UE的第二SRS‑P从第一RIS的反射的第二TOA、以及来自该UE的第三SRS‑P从第二RIS的反射的第三TOA。该UE基于第一TOA、第二TOA和第三TOA来向定位估计实体传送测量信息。该定位估计实体至少部分地基于该测量信息来确定该UE的定位估计。 | ||
| 搜索关键词： | 配置 智能 表面 参考 信号 反射 测量 | ||
【主权项】：
暂无信息
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