[发明专利]一种考虑互耦效应的随机阵列天线方向图综合方法在审
| 申请号： | 202210019891.X | 申请日： | 2022-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN114386271A | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 赵琪;魏浩;韩威;魏恒;王亚舟;周媛;卢云龙;赵建欣;刘子奕 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06N3/00 |
| 代理公司： | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人： | 王文庆 |
| 地址： | 050081 河北省石家庄*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种考虑互耦效应的随机阵列天线方向图综合方法，属于天线阵列方向图综合技术领域。本方法包括天线阵列建模步骤、天线阵列方向图生成步骤以及最优幅相加权获取步骤。本发明考虑了阵列天线单元间的互耦效应及阵列天线的极化特性，结合有源单元方向图，构建精确的天线阵列模型，针对目标阵列方向图使用混合粒子群算法进行天线阵列方向图快速优化，最终实现波束展宽、低副瓣和相控阵扫描等波束赋形。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 考虑 效应 随机 阵列 天线方向图 综合 方法 | ||
【主权项】：
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