[发明专利]半导体装置、封装结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202210020914.9 申请日: 2022-01-10
公开(公告)号: CN115472578A 公开(公告)日: 2022-12-13
发明(设计)人: 蔡宗甫;施应庆;卢思维 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/498;H01L23/538;H01L21/56
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 康艳青;王琳
地址: 中国台湾新竹科学工业园区新*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种封装结构包括半导体管芯、第一绝缘包封体、多个第一导电特征、互连结构和凸块结构。半导体管芯包括由第一材料制成的多个导电柱。第一绝缘包封体包封半导体管芯。第一导电特征设置在半导体管芯上并且电连接到导电柱。第一导电特征至少包括不同于第一材料的第二材料。互连结构设置在第一导电特征上,其中互连结构包括由第二材料制成的多个连接结构。凸块结构将第一导电特征电连接到连接结构,其中凸块结构包括不同于第一材料和第二材料的第三材料。
搜索关键词: 半导体 装置 封装 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
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