[发明专利]量测方法在审
| 申请号： | 202210022330.5 | 申请日： | 2022-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN115994885A | 公开（公告）日： | 2023-04-21 |
| 发明（设计）人： | 黎宇泰;林高祺;谢卓帆;吴登峻;彭成瑜 | 申请（专利权）人： | 财团法人工业技术研究院 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/28;G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 张燕华;祁建国 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种量测方法，包括以下步骤。对待测物形成具有第一特征图案的待测影像。复制所述待测影像以形成多个待测影像，并将所述多个待测影像以叠加影像方式形成待测叠影影像，所述待测叠影影像具有多个所述第一特征图案。对参考物形成具有第二特征图案的参考影像。复制所述参考影像以形成多个参考影像，并将所述多个参考影像以叠加影像方式形成参考叠影影像，所述参考叠影影像具有多个所述第二特征图案。将所述待测叠影影像与所述参考叠影影像相叠，以产生一叠纹影像，所述叠纹影像具有一叠纹图案，所述叠纹图案不同于所述多个第一特征图案，所述叠纹图案不同于所述多个第二特征图案。 | ||
| 搜索关键词： | 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于财团法人工业技术研究院，未经财团法人工业技术研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210022330.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
