[发明专利]I/O卡件通道精度的测试方法、系统及介质在审
| 申请号： | 202210028170.5 | 申请日： | 2022-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN114442591A | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 叶康利;崔同海;杨峰;郝龙;赵建锋;张达;杨时虎;许林红;罗智明;杨梦远;余建川;任鑫;童彤 | 申请（专利权）人： | 中国华能集团清洁能源技术研究院有限公司;华能大理风力发电有限公司洱源分公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 黄垚琳 |
| 地址： | 102209 北京市昌平区北七家*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提出了一种I/O卡件通道精度的测试方法、系统及介质，该方法包括：将待测试的输入/输出I/O卡件连接至预设的测试设备，I/O卡件具有M个通道，M为正整数；通过测试设备向每个通道分别施加对应的2n个测试数据，并获取每个测试数据对应的测试结果，n为正整数，第n+1至第2n个测试数据是与第1至第n个测试数据呈镜像对称的回程数据；根据每个通道的全部测试结果依次计算每个通道的最大回差和精度；将最大回差和所述精度与预设的标准最大回差和标准精度进行比较，判断每个通道的性能是否合格。该方法实现了I/O卡件的通道精度的自动化测试，提高了通道精度测试的效率和准确性，降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 通道 精度 测试 方法 系统 介质 | ||
【主权项】：
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