[发明专利]饱满点的监测方法、存储介质、终端和拉晶设备有效

专利信息
申请号: 202210033284.9 申请日: 2022-01-12
公开(公告)号: CN114387251B 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 何开振;纪步佳;董志文;杨君;庄再城;胡方明;杨国炜;纪昌杰;曹葵康;薛峰 申请(专利权)人: 苏州天准科技股份有限公司;苏州天准软件有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/13;G06T7/62;C30B15/26;C30B29/06
代理公司: 北京千壹知识产权代理事务所(普通合伙) 11940 代理人: 王玉玲
地址: 215153 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种饱满点的监测方法、存储介质、终端和拉晶设备,属于半导体领域,方法包括采集图像、亮区域定位、阈值分割、状态判断,当判定为常态则计算常态饱满点突出外光圈距离d,当判定为非常态,则根据动态阈值分割算法检测得到非常态饱满点;拉晶设备包括炉体、旋转坩埚、拉晶单元、状态监测单元、加料器和控制器,根据饱满点维持时间判定是否可以进入后续引晶阶段,以此提供判定依据;本发明基于图像处理和距离计算,判定饱满点状态,以此实现实时的智能化监控拉晶动态,保证拉晶状态的稳定,并提高拉晶质量,便于在半导体制造领域推广应用。
搜索关键词: 满点 监测 方法 存储 介质 终端 设备
【主权项】:
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