[发明专利]饱满点的监测方法、存储介质、终端和拉晶设备有效
申请号: | 202210033284.9 | 申请日: | 2022-01-12 |
公开(公告)号: | CN114387251B | 公开(公告)日: | 2022-09-30 |
发明(设计)人: | 何开振;纪步佳;董志文;杨君;庄再城;胡方明;杨国炜;纪昌杰;曹葵康;薛峰 | 申请(专利权)人: | 苏州天准科技股份有限公司;苏州天准软件有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/13;G06T7/62;C30B15/26;C30B29/06 |
代理公司: | 北京千壹知识产权代理事务所(普通合伙) 11940 | 代理人: | 王玉玲 |
地址: | 215153 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种饱满点的监测方法、存储介质、终端和拉晶设备,属于半导体领域,方法包括采集图像、亮区域定位、阈值分割、状态判断,当判定为常态则计算常态饱满点突出外光圈距离d,当判定为非常态,则根据动态阈值分割算法检测得到非常态饱满点;拉晶设备包括炉体、旋转坩埚、拉晶单元、状态监测单元、加料器和控制器,根据饱满点维持时间判定是否可以进入后续引晶阶段,以此提供判定依据;本发明基于图像处理和距离计算,判定饱满点状态,以此实现实时的智能化监控拉晶动态,保证拉晶状态的稳定,并提高拉晶质量,便于在半导体制造领域推广应用。 | ||
搜索关键词: | 满点 监测 方法 存储 介质 终端 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州天准科技股份有限公司;苏州天准软件有限公司,未经苏州天准科技股份有限公司;苏州天准软件有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210033284.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。