[发明专利]一种半导体测试方法、系统及存储介质在审
| 申请号： | 202210038423.7 | 申请日： | 2022-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN114530188A | 公开（公告）日： | 2022-05-24 |
| 发明（设计）人： | 李顺喜;李康 | 申请（专利权）人： | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G11C29/36 | 分类号： | G11C29/36;G11C29/46;G11C29/48 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 徐雯;张颖玲 |
| 地址： | 430074 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种半导体测试方法、系统及存储介质，所述半导体测试方法包括：创建测试数据表；所述测试数据表包括第一子表和第二子表；根据预设测试流程，对待测芯片组进行测试；所述预设测试流程包括将测试数据写入所述待测芯片组和读取所述待测芯片组中的测试数据；将写入所述待测芯片组的所述测试数据存储至所述第一子表中；基于所述测试数据生成第一校验信息，并将所述第一校验信息存储至所述第二子表中；基于读取所述待测芯片组中的测试数据得到的读出数据生成第二校验信息；基于所述第一校验信息和所述第二校验信息对所述待测芯片组进行校验。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 方法 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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