[发明专利]反射式连续旋转雷达扫描装置、测量系统及物料测量方法在审

专利信息
申请号: 202210056386.2 申请日: 2022-01-18
公开(公告)号: CN114609625A 公开(公告)日: 2022-06-10
发明(设计)人: 呼秀山;李圆圆 申请(专利权)人: 北京锐达仪表有限公司
主分类号: G01S13/88 分类号: G01S13/88;G01S7/02;G01F23/284;G01B7/28
代理公司: 北京庚致知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11807 代理人: 李伟波
地址: 100744 北京市通州区中关村科技*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供一种反射式连续旋转雷达扫描装置,包括:微波模块,微波模块能够形成发射波束以及接收入射波束;反射结构,反射结构与微波模块间隔预定距离设置,并且反射结构的反射面与微波模块的发射波束形成第一角度并且对接收的发射波束进行反射以形成第二角度的出射波束;以及驱动机构,驱动机构用于驱动反射结构进行旋转,反射结构的旋转使得第一角度进行变化从而使得第二角度进行变化,不同第二角度的出射波束形成旋转波束,基于旋转波束对处于一个二维扫描面中的物料表面不同测量点进行分时测量,来实现物料表面轮廓的二维测量。本公开还提供了一种物料三维形态测量系统及物料测量方法。
搜索关键词: 反射 连续 旋转 雷达 扫描 装置 测量 系统 物料 测量方法
【主权项】:
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