[发明专利]用于中心导体法磁粉检测的试件以及该试件的检测方法在审
| 申请号： | 202210067471.9 | 申请日： | 2022-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN114544754A | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 蒋浩;袁宗泽;乐开白;刘春华;姚洋;刘道云;黄书海;孟庆伟;李玉 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军63836部队 |
| 主分类号： | G01N27/84 | 分类号： | G01N27/84;G01B7/26;G01B7/02 |
| 代理公司： | 成都信捷同创知识产权代理事务所(普通合伙) 51323 | 代理人： | 左正超 |
| 地址： | 621052 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于无损检测技术领域，公开了一种用于中心导体法磁粉检测的试件以及该试件的检测方法，检测方法包括将导体放置在磁探检测台两个夹头之间，试件套在导体上，用支撑工件固定试件使导体位于试件的中心位置；对导体通电磁化并施加磁粉或磁悬液获得磁痕；记录磁化电流大小和磁痕的长度；依据公式计算出磁粉检测深度。本发明的试件能够用于中心导体法磁粉检测内壁近表面纵向缺陷的可检深度，该试件的检测方法能够用于制定合适可行的中心导体法磁粉检测工艺，用于检测铁磁性材料管子等空心件的内壁近表面纵向缺陷可检深度的工艺灵敏度、分辨率、可靠性验证，优化中心导体法磁粉检测工艺参数，提高该类型工件的内壁近表面纵向缺陷检测能力。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 中心 导体 法磁粉 检测 以及 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军63836部队，未经中国人民解放军63836部队许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210067471.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
