[发明专利]一种建立缝洞型储层电导率模型的方法及应用有效

专利信息
申请号: 202210069967.X 申请日: 2022-01-21
公开(公告)号: CN114429044B 公开(公告)日: 2023-07-28
发明(设计)人: 王亮;田杰;司马立强;刘红岐 申请(专利权)人: 成都理工大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 刘妮
地址: 610066 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种建立缝洞型储层电导率模型的方法与应用,其中方法,包括:步骤1.经过理论推导,溶洞储层电导率表达式:式中,σbv为溶洞储层的电导率,σm为储层基质电导率,σv为溶洞电导率,Φv为溶洞孔隙度,Φf为裂缝孔隙度;步骤2.缝洞型储层中,用θ表示裂缝倾角,当裂缝为水平裂缝时θ=0°,缝洞型储层的横向电导率视为溶洞储层电导率与裂缝电导率并联,缝洞型储层的垂向电导率视为溶洞储层电导率与裂缝电导率串联。本发明相较于现有技术,从理论上给出了缝洞型储层的双侧向电导率模型,相较于溶洞型储层、裂缝型储层的单一孔隙体系储层的电导率模型,本方法具有更广的适应性。
搜索关键词: 一种 建立 缝洞型储层 电导率 模型 方法 应用
【主权项】:
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