[发明专利]校准超声测量的装置的方法、测量介质温度的方法和装置在审

专利信息
申请号: 202210070221.0 申请日: 2022-01-21
公开(公告)号: CN114878018A 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: C·J·霍根多尔恩 申请(专利权)人: 克洛纳有限公司
主分类号: G01K11/24 分类号: G01K11/24;G01K15/00;G01F1/66
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 叶晓勇;刘春元
地址: 瑞士.*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 描述并介绍了一种用于校准基于超声测量的温度测量单元(3)的方法(1),其中,所述温度测量单元(3)具有超声测量装置(10),该超声测量装置带有至少一个超声发射器和至少一个超声接收器,其中,存在温度传感器(12),其特征在于,所述方法(1)具有以下步骤:‑建立在待测介质的介质温度TM与穿过所述待测介质的测量信号的声速c之间的经验函数关系TM(c),其中,在至少两个测量点上至少确定(5)测量信号的声速c、通过温度传感器测量的温度T传感器和传感器温度的时间变化dT/dt,其中,所述至少两个测量点具有不同的介质温度TM,其中,考虑到所述传感器温度的时间变化dT/dt,由测量的温度T传感器确定(6)介质温度TM,从而存在至少两个值对(TM1、c1)和(TM2、c2),其中,通过对应于所述经验函数关系TM(c)的值对来确定(7)补偿曲线,‑将所述函数关系TM(c)存储(8)在所述温度测量单元(3)中。
搜索关键词: 校准 超声 测量 装置 方法 介质 温度
【主权项】:
暂无信息
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