[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202210073199.5 申请日: 2022-01-21
公开(公告)号: CN114549418A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 王福伟;王建凯;刘秋荣;陈曦;麻志毅 申请(专利权)人: 杭州未名信科科技有限公司;浙江省北大信息技术高等研究院
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/90;G06V10/762;G06V10/774;G06V10/764;G06V10/82;G06K9/62;G06N3/08
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 鞠永帅
地址: 311200 浙江省杭州市萧*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法包括:获取已标注的图像样本,建立数据集,所述图像样本由两个图像块组成且所述图像样本的标注为同类或不同类,所述图像块具有基于多个颜色空间确定的特征向量;构建基于打分网络的缺陷检测模型结构;根据所述数据集,对所述缺陷检测模型结构进行训练,得到缺陷检测模型;获取待检测的木板照片,所述木板照片基于所述多个颜色空间确定每个像素点的特征向量;根据所述缺陷检测模型,获取所述木板照片每个像素点的量化分数;根据每个像素点的所述量化分数,识别木板的缺陷。这样,只需要提供一种颜色缺陷对应的图像样本,即可对该缺陷进行检测,大大精简了工作量。
搜索关键词: 一种 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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