[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质在审
申请号: | 202210073199.5 | 申请日: | 2022-01-21 |
公开(公告)号: | CN114549418A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 王福伟;王建凯;刘秋荣;陈曦;麻志毅 | 申请(专利权)人: | 杭州未名信科科技有限公司;浙江省北大信息技术高等研究院 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/90;G06V10/762;G06V10/774;G06V10/764;G06V10/82;G06K9/62;G06N3/08 |
代理公司: | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人: | 鞠永帅 |
地址: | 311200 浙江省杭州市萧*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法包括:获取已标注的图像样本,建立数据集,所述图像样本由两个图像块组成且所述图像样本的标注为同类或不同类,所述图像块具有基于多个颜色空间确定的特征向量;构建基于打分网络的缺陷检测模型结构;根据所述数据集,对所述缺陷检测模型结构进行训练,得到缺陷检测模型;获取待检测的木板照片,所述木板照片基于所述多个颜色空间确定每个像素点的特征向量;根据所述缺陷检测模型,获取所述木板照片每个像素点的量化分数;根据每个像素点的所述量化分数,识别木板的缺陷。这样,只需要提供一种颜色缺陷对应的图像样本,即可对该缺陷进行检测,大大精简了工作量。 | ||
搜索关键词: | 一种 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州未名信科科技有限公司;浙江省北大信息技术高等研究院,未经杭州未名信科科技有限公司;浙江省北大信息技术高等研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210073199.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。