[发明专利]一种扣除背景辐射影响的温度与发射率测量方法及装置在审
申请号: | 202210087938.6 | 申请日: | 2022-01-25 |
公开(公告)号: | CN114623931A | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
发明(设计)人: | 张允祥;李新;张艳娜;韦玮;潘琰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00;G01J5/08 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 郑汝珍 |
地址: | 230031 安徽省合肥*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 一种扣除背景辐射影响的温度与发射率测量方法和装置,本发明利用二维转台驱动多通道红外辐射计进行观测方位角在0~360°范围,观测天顶角在0~90°范围下,多个测量点大气下行辐射测量,有效表征了大气下行辐射在反演地表温度和发射率的影响,提高反演精度;基于实验室多种材料的光谱发射率数据库分析,建立了多通道红外辐射计最小发射率与MMD之间的经验关系如公式,并以此为先验条件有效解决地表温度与发射率的耦合作用影响,实现地表温度与发射率高精度分离;采用上位机软件控制装置运行工作,数据采集、存储和处理等,操作简单高效。 | ||
搜索关键词: | 一种 扣除 背景 辐射 影响 温度 发射 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
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