[发明专利]一种扣除背景辐射影响的温度与发射率测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 202210087938.6 申请日: 2022-01-25
公开(公告)号: CN114623931A 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 张允祥;李新;张艳娜;韦玮;潘琰 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G01J5/08
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人: 郑汝珍
地址: 230031 安徽省合肥*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种扣除背景辐射影响的温度与发射率测量方法和装置,本发明利用二维转台驱动多通道红外辐射计进行观测方位角在0~360°范围,观测天顶角在0~90°范围下,多个测量点大气下行辐射测量,有效表征了大气下行辐射在反演地表温度和发射率的影响,提高反演精度;基于实验室多种材料的光谱发射率数据库分析,建立了多通道红外辐射计最小发射率与MMD之间的经验关系如公式,并以此为先验条件有效解决地表温度与发射率的耦合作用影响,实现地表温度与发射率高精度分离;采用上位机软件控制装置运行工作,数据采集、存储和处理等,操作简单高效。
搜索关键词: 一种 扣除 背景 辐射 影响 温度 发射 测量方法 装置
【主权项】:
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