[发明专利]用于膜式壁低纹理结构点线特征提取的SLAM改进算法在审
| 申请号： | 202210090225.5 | 申请日： | 2022-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN114494437A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 胥芳;吴周鑫;占红武 | 申请（专利权）人： | 浙江工业大学 |
| 主分类号： | G06T7/73 | 分类号： | G06T7/73;G06V20/10;G06V10/80;G06V10/771;G06K9/62 |
| 代理公司： | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人： | 沈渊琪 |
| 地址： | 310014 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开用于膜式壁低纹理结构点线特征提取的SLAM改进算法，包括以下步骤：S1分割图像，根据图像信息熵将空间中低纹理结构化场景中的图像信息区分为高熵区域和低熵区域；S2对高熵区域使用严格的点特征进行特征提取；S3对低熵区域的图像中的线特征进行特征提取，并设定线几何约束规则对线特征进行筛选；S4图像融合：将高熵区域的点特征和低熵区域的线特征一起加入位姿优化。本发明算法特别适用于以火电厂锅炉水冷壁为代表的一类膜式壁环境，这类场景普遍具有低纹理结构化特征；相较标准PL‑SLAM算法，在该场景下本发明平均可减少30％多的数据处理量，定位速度提高20％。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 膜式壁低 纹理 结构 点线 特征 提取 slam 改进 算法 | ||
【主权项】：
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