[发明专利]终端设备的性能评测方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202210095692.7 申请日: 2022-01-26
公开(公告)号: CN114546798A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 全振宇;韩银和 申请(专利权)人: 中国科学院计算技术研究所
主分类号: G06F11/34 分类号: G06F11/34;G06F11/36;G06V10/776;G06K9/62;G10L15/01;G10L15/16;G10L15/26
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 祁建国;马砚花
地址: 100080 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种终端设备的性能评测方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法包括:接收用户的指令,以启动AI性能评测流程;控制并执行每一种AI性能单项测试,并确定每一种所述AI性能单项测试的得分;基于所有所述AI性能单项测试的得分,确定终端设备的AI性能综合得分,对所述终端设备的性能评估。该方法通过多种AI性能单项测试对终端设备的AI性能进行评测,能够测试设备在处理这些不同AI应用时的实际性能,更全面的对终端设备的AI性能进行评估。
搜索关键词: 终端设备 性能 评测 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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