[发明专利]一种模拟集成电路的参数优化方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210101249.6 申请日: 2022-01-27
公开(公告)号: CN114492279A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 王红义;陈晨;惠静妮;吴凯凯;梁峰 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G06F30/373 分类号: G06F30/373;G06N7/00;G06K9/62;G06F111/04;G06F111/08
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 李鹏威
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种模拟集成电路的参数优化方法及系统,所述方法包括以下步骤:获取待参数优化的模拟集成电路的电路结构、性能指标要求、设计参数及其取值范围、迭代停止条件;基于获取的设计参数及其取值范围,采样获得训练样本集;将所述训练样本集中的每个样本分别输入电路仿真器进行仿真,获得对应的训练响应集;基于所述训练样本集和训练响应集进行迭代,实现模拟集成电路的参数优化。本发明为缓解维数灾难的问题,使算法具有处理高维优化问题的能力,提出了一种基于互信息分析的逐步优化策略;在每次迭代中,仅选取部分设计变量进行优化,能够缓解维数灾难。
搜索关键词: 一种 模拟 集成电路 参数 优化 方法 系统
【主权项】:
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