[发明专利]一种空间极高精度指向测量仪器跨尺度标定方法和系统在审
| 申请号： | 202210107640.7 | 申请日： | 2022-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN114577235A | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | 王立;武延鹏;袁利;孟小迪;郑然;齐静雅;李玉明;程会艳;王苗苗;赵琴;王晓燕;隋杰;张承钰 | 申请（专利权）人： | 北京控制工程研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 杨春颖 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种空间极高精度指向测量仪器跨尺度标定方法和系统，该方法包括：获取光电测试参数；根据光电测试参数，对空间指向测量仪器的图像探测器进行像素级标定；根据像素级标定的结果，对空间指向测量仪器进行视场级标定；根据视场级标定的结果，对空间指向测量仪器进行轨道级标定。本发明实现了像素级‑视场级‑轨道级的跨尺度、精细化的标定，可满足空间指向测量仪器的极高精度指向测量需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 空间 极高 精度 指向 测量 仪器 尺度 标定 方法 系统 | ||
【主权项】：
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