[发明专利]一种基于斜视模式SAR层析数据的三维成像方法在审

专利信息
申请号: 202210116023.3 申请日: 2022-01-26
公开(公告)号: CN115248431A 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 陈志扬;胡程;董锡超;李元昊 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 李爱英;付雷杰
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明的基于斜视模式SAR层析数据的三维成像方法,通过获取N条重轨卫星精确星历,根据重轨卫星精确星历获取每条重轨卫星轨迹的重轨孔径中心时刻的场景中心位置和重轨卫星位置;根据参考轨迹k0的场景中心位置和重轨卫星位置,计算重轨卫星轨迹ki与参考轨迹k0的图像对的几何相关系数;根据重轨卫星轨迹ki的精确星历,计算其到参考轨迹k0的重轨孔径中心的有效垂直基线;根据图像对的几何相关系数和有效垂直基线计算重轨卫星轨迹ki的高程反演精度CRLB;选择重轨卫星轨迹ki的高程反演精度CRLB的最优位置作为重轨卫星轨迹ki的重轨孔径中心,采集重轨卫星轨迹ki的SAR图像;重复上述步骤,直到所有重轨孔径中心优化完成;利用压缩感知方法进行目标高程估计,根据斜视模式高程方向获得目标在大地坐标系的三维位置,以提高SAR层析三维成像精度。
搜索关键词: 一种 基于 斜视 模式 sar 层析 数据 三维 成像 方法
【主权项】:
暂无信息
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