[发明专利]光学设备测试系统在审
| 申请号： | 202210117555.9 | 申请日： | 2022-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN115077596A | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | S.谢;A.罗希特;L.莫拉莱斯;M.多尔加诺夫;P.特兰 | 申请（专利权）人： | 朗美通经营有限责任公司 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02;H02M9/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 胡琪 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于光学设备的表征电路，包括：光学设备、开关、开关驱动器、一个或多个电阻器以及一个或多个电容器。开关驱动器被配置为从外部脉冲发生器接收触发脉冲，并将触发脉冲提供给开关，这使得开关处于接通状态。一个或多个电容器被配置为当开关处于断开状态时，经由一个或多个电阻器从外部驱动电压源接收充电电流(例如，具有大于50纳秒的上升时间)；并且，当开关处于接通状态时，向光学设备放电电流脉冲(例如，具有小于10纳秒的脉冲宽度)。光学设备被配置为接收电流脉冲，并基于电流脉冲发射光输出脉冲。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 设备 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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