[发明专利]一种基于EBSD表征和晶体塑性的疲劳微裂纹扩展预测方法在审

专利信息
申请号: 202210120909.5 申请日: 2022-02-09
公开(公告)号: CN114662356A 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 江荣;章文天;吴常皓;于泽;宋迎东 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G06F30/23 分类号: G06F30/23;G06F119/04;G06F119/08;G06F119/14
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 吴旭
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于EBSD表征和晶体塑性的疲劳微裂纹扩展预测方法,包括以下步骤:获取应力应变迟滞回线;编写宏观粘塑性本构模型,确定其参数;建立宏观构件的有限元模型,并赋予其粘塑性本构材料参数,进行疲劳加载,获得构件的宏观应力场和位移场,初步确定其危险部位;编写晶体塑性本构模型,确定其参数;建立局部细观模型;确定危险晶粒;引入初始裂纹,并由裂纹萌生模型确定萌生寿命;在裂纹尖端判断开裂晶粒及相邻晶粒的累积应变能耗散密度分布,以初始裂纹的终点为起点,在具有最大累积应变能耗散密度滑移系上继续引入新的穿晶裂纹;并确定微裂纹扩展寿命。本发明能够虑及局部晶粒的微结构特征对裂纹扩展行为的影响。
搜索关键词: 一种 基于 ebsd 表征 晶体 塑性 疲劳 裂纹 扩展 预测 方法
【主权项】:
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