[发明专利]一种矩形通道X射线探测镜片的热弯工艺检测方法有效

专利信息
申请号: 202210127180.4 申请日: 2022-02-11
公开(公告)号: CN114646455B 公开(公告)日: 2023-09-15
发明(设计)人: 周庆勇;朱永兴;廉姣;刘辉;董联庆 申请(专利权)人: 中国人民解放军61540部队
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01B11/26;G01B11/255
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 李罡
地址: 710054 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明为一种矩形通道X射线探测镜片的检测方法,其克服了现有技术中存在的测试成本非常高,生产单位难以及时做到热弯工艺的检测问题,本发明可对热弯工艺进行检测评价,检测方法方便快捷,准确度高,成本低。本发明采用表观曲率测试、指向测试、激光成像测试相结合,对热弯工艺进行检测,研制单位可根据检测结果对热弯工艺做出相应调整最终确定热弯的工艺。本发明包括以下步骤:步骤1:通过测量镜片各处的三坐标数值拟合镜片的表观曲率半径。步骤2:通过测量镜片剖面处通道的倾斜角测量通道的实际指向。步骤3:采用激光成像系统测试成像。
搜索关键词: 一种 矩形 通道 射线 探测 镜片 工艺 检测 方法
【主权项】:
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