[发明专利]散射介质光学传输矩阵的测量方法在审
| 申请号： | 202210127594.7 | 申请日： | 2022-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN114460045A | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | 詹其文;胡海峰;高涵 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47;G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人： | 孟旭彤 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种散射介质光学传输矩阵的测量方法，该方法包括：将入射光束的水平偏振分量和垂直偏振分量分别作为信号光束和参考光束经过半波片入射散射介质；旋转半波片调制信号光束和参考光束的比例，消除参考光束的影响，检索散射介质光学传输矩阵的最优解。上述散射介质光学传输矩阵的测量方法，在测量散射介质光学传输矩阵时具有明显的增强效果，将入射光束的水平偏振分量和垂直偏振分量分别作为信号光束和参考光束，采用共路传播全场相移干涉法在测量光学传输矩阵时可以完全消除参考光束的影响，在测量光学传输矩阵时检索效率更高，样本需求更低，信号光束和参考光束共路传输，可以降低系统误差。 | ||
| 搜索关键词： | 散射 介质 光学 传输 矩阵 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海理工大学，未经上海理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210127594.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
