[发明专利]一种适用恶劣环境的测控台在审
| 申请号： | 202210128836.4 | 申请日： | 2022-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN116626409A | 公开（公告）日： | 2023-08-22 |
| 发明（设计）人： | 龚意敏;张慧萍 | 申请（专利权）人： | 北京华航无线电测量研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/02;G01R1/04;H05K5/00;H05K5/02;H05K5/03;H05K7/20 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 | 代理人： | 张同玲 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种适用恶劣环境的测控台，属于电气产品测控技术领域，解决了现有技术中的测控台成本高、容易引起产品故障的问题。该测控台包括翻盖以及与所述翻盖连接的机箱，所述翻盖内表面设置有显示屏，所述机箱包括机箱外壳和设置在所述机箱外壳上的操控面板，所述操控面板的两端分别设置有进风口和出风口，所述机箱内部设置有板卡放置槽，所述板卡放置槽内放置有功能板卡、主控板和模块电源。本发明的测控台成本低、在恶劣环境中不易出现故障。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用 恶劣 环境 测控 | ||
【主权项】：
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