[发明专利]一种基于高光谱成像技术的光谱特性测量装置在审
| 申请号： | 202210133792.4 | 申请日： | 2022-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN114485940A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 汪胜前;刘祖涵;张绍泉;李璠;王莉莉 | 申请（专利权）人： | 南昌工程学院 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/02;G01J3/10;G01N21/25;G01N21/01;F16M11/04;F16M11/18 |
| 代理公司： | 陕西铭一知识产权代理有限公司 61287 | 代理人： | 马歆甜 |
| 地址： | 330099 江西省南*** | 国省代码： | 江西;36 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于高光谱成像技术的光谱特性测量装置，包括底座，所述底座上通过移动机构安装有安装块，且安装块上通过转动机构安装有安装杆，所述安装块上通过滑动机构安装有光谱仪本体，所述光谱仪本体的左右两侧均固定安装有支撑杆，且两个支撑杆上均开设有摆动槽。优点在于：可在光谱仪本体的高度发生变化时，使得两个卤素灯的偏转角度随其同时发生相应的变化，从而可确保两个卤素灯对待测量物的补光效果，避免测量结果出现偏差的问题，且可根据实际需要对光谱仪本体相对待测量物的角度进行调节，使其从不同角度对待测量物进行测量，有效提高了测量结果的全面性，且调节方式也较为简便，易于操作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光谱 成像 技术 特性 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南昌工程学院，未经南昌工程学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210133792.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种高陡碎石土边坡生态修复结构体系及修复方法
- 下一篇：锂离子电芯化成方法
