[发明专利]一种测量激光晶体受激发射截面的方法及装置在审
| 申请号： | 202210150744.6 | 申请日： | 2022-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN114526893A | 公开（公告）日： | 2022-05-24 |
| 发明（设计）人： | 郭永瑞;张娜娜;盛宏远 | 申请（专利权）人： | 重庆邮电大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 梁田 |
| 地址： | 400000 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量激光晶体受激发射截面的方法及装置，该方法包括：测量激光器的强度噪声，并从激光器的强度噪声谱线中获取激光器的弛豫振荡频率测量值；根据测量激光器的强度噪声时激光器的实际参数，利用激光器弛豫振荡频率的理论函数作函数曲线图；函数曲线图是以激光器激光晶体受激发射截面理论值为自变量，且以激光器的弛豫振荡频率理论值为因变量的函数曲线图；当弛豫振荡频率测量值等于弛豫振荡频率理论值时，所述函数曲线图中所述弛豫振荡频率测量值对应的横坐标的值，即为激光器的被测激光晶体在注入抽运功率该运转状态下实际的受激发射截面。本发明测量精准，适合稳定运转下全固态激光器激光晶体实际受激发射截面的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 激光 晶体 受激发射 截面 方法 装置 | ||
【主权项】：
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