[发明专利]一种ATE测试通道的自诊断方法在审
| 申请号： | 202210157357.5 | 申请日： | 2022-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN114527422A | 公开（公告）日： | 2022-05-24 |
| 发明（设计）人： | 何冬晓 | 申请（专利权）人： | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/02 | 分类号： | G01R35/02 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 徐琳;吴世华 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种ATE测试通道的自诊断方法，包括如下步骤：S01：将测试通道排序后分为奇数测试通道和偶数测试通道，配置奇数测试通道和偶数测试通道的输入高电平电压VIH、输入低电平电压VIL、输出高电平电压VOH和输出低电平电压VOL不同；S02：奇数测试通道和偶数测试通道的发送端同时发送相同的数据信号，且各个测试通道的接收端接收其发送端所发送的数据信号，根据接收的数据信号判断对应测试通道是否正常。本申请无需诊断单板作为接受端，可以快速诊断测试通道的基础信号收发功能，可以有效检测相邻测试通道的短路、断路情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ate 测试 通道 诊断 方法 | ||
【主权项】：
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