[发明专利]测试方法、装置、电子设备、存储介质及计算机程序在审
| 申请号： | 202210174935.6 | 申请日： | 2022-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN116705123A | 公开（公告）日： | 2023-09-05 |
| 发明（设计）人： | 江向前 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G11C29/08 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 屈蓓;刘芳 |
| 地址： | 230011 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请实施例提供一种测试方法、装置、电子设备、存储介质及计算机程序，该方法包括：对冗余阵列中的所有第二位元写入第一数值；采用待验证的目标映射关系通过冗余阵列的第二位元对主阵列中对应的第一位元进行修复，映射关系包括第二位元的地址与对应的第一位元的地址之间的修复关系；对主阵列中所有第一位元写入第二数值，第一数值与第二数值不同；判断第二位元中的数值是否为第一数值，若否，则将第二位元作为实际修复位元，并记录实际修复位元的地址；根据预设映射关系和实际修复位元的地址判断目标映射关系是否正确。本申请实施例可以通过对主阵列的修复和简单的读写过程，实现对目标映射关系的有效验证。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 计算机 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长鑫存储技术有限公司，未经长鑫存储技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210174935.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
