[发明专利]半导体器件及其形成方法在审
申请号: | 202210190840.3 | 申请日: | 2022-02-25 |
公开(公告)号: | CN114649405A | 公开(公告)日: | 2022-06-21 |
发明(设计)人: | 陈重辉;陈万得;钟淑维;谢东衡;张子敬;余宗欣;张永丰 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 半导体器件包括衬底。第一纳米片结构和第二纳米片结构设置在衬底上。第一纳米片结构和第二纳米片结构的每个具有至少一个形成源极/漏极区域的纳米片和包括导电栅极接触件的栅极结构。第一氧化物结构设置在第一纳米片结构和第二纳米片结构之间的衬底上。导电端子设置在第一氧化物结构中或上。导电端子、第一氧化物结构和第一纳米片结构的栅极结构限定电容器。本申请的实施例还涉及形成半导体器件的方法。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
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