[发明专利]芯片的老化性试验控制系统及方法在审
| 申请号： | 202210193447.X | 申请日： | 2022-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN114705969A | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 胡晗;刘锐锐;许明亮;徐浩;蒋义冠;许小龙 | 申请（专利权）人： | 深圳市紫光同创电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3183 |
| 代理公司： | 深圳国新南方知识产权代理有限公司 44374 | 代理人： | 周雷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片的老化性试验控制系统及方法。该芯片的老化性试验控制系统包括晶振，用于生成时钟信号；存储模块，用于存储第一烧录程序和第二烧录程序；芯片控制模块，分别与晶振、存储模块电性连接，用于从存储模块加载第一烧录程序进行上电配置，并接收晶振发送的时钟信号；至少一个待老炼芯片，均分别与芯片控制模块、存储模块电性连接，用于接收芯片控制模块转发的时钟信号，并从存储模块加载第二烧录程序进行上电配置，再根据时钟信号进行老炼。其可解决FPGA芯片的老化性试验过程中老炼成本高，烧录效率低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 化性 试验 控制系统 方法 | ||
【主权项】：
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