[发明专利]智能设备的入网测试方法、系统、介质及电子设备在审

专利信息
申请号: 202210200120.0 申请日: 2022-03-02
公开(公告)号: CN114584646A 公开(公告)日: 2022-06-03
发明(设计)人: 刘然;王二旭 申请(专利权)人: 京东科技信息技术有限公司
主分类号: H04M1/24 分类号: H04M1/24;H04L43/50
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 王辉
地址: 100176 北京市大兴区北京经*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开是关于一种智能设备的入网测试方法、系统、介质及电子设备,该方法基于预先设置的第一操作信息控制机械装置,使得机械装置控制智能设备进入入网模式;基于预先设置的第二操作信息控制终端设备对处于入网模式的智能设备进行入网,确定入网时长和入网结果。利用低成本的机械装置模拟人与智能设备的交互,利用开源自动化工具模拟人与终端设备的交互,达到对设备入网效果自动化测试的效果,不依赖于人工经验和熟练程度,降低了人为操作带来的不确定性,提升了测试结果稳定性。根据本方案编写的测试用例,可以多次重复使用,能适配于不同型号的设备,降低了对人力资源的占用,成本较低。
搜索关键词: 智能 设备 入网 测试 方法 系统 介质 电子设备
【主权项】:
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