[发明专利]刻蚀终点检测方法及装置在审
申请号: | 202210203194.X | 申请日: | 2022-03-02 |
公开(公告)号: | CN114582699A | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 常晓阳;王新河;林晓阳;赵巍胜 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32;H01L21/66 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 叶明川;董骁毅 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种刻蚀终点检测方法及装置,该刻蚀终点检测方法包括:通过电源调制信号对刻蚀电源信号进行调幅得到刻蚀调幅信号;获取光谱仪采集的基于等离子体刻蚀样品生成的光谱信号;其中,等离子体由刻蚀工艺系统基于刻蚀调幅信号加载生成;通过电源调制信号对光谱信号进行混频滤波处理;根据经过混频滤波处理的光谱信号检测刻蚀终点。本发明可以有效检测出不同膜层结构中所含有的元素成分,从而实现高精度的脉冲刻蚀终点检测及控制。 | ||
搜索关键词: | 刻蚀 终点 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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