[发明专利]一种基于环芯光纤光斑的熔接偏移量的检测方法在审
| 申请号： | 202210211105.6 | 申请日： | 2022-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN114565595A | 公开（公告）日： | 2022-05-31 |
| 发明（设计）人： | 刘洁;黄聪;唐钢 | 申请（专利权）人： | 中山大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/50;G06N3/04;G06N3/08;G01M11/00 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 王晓玲 |
| 地址： | 510275 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于光纤传感技术领域，更具体地，涉及一种基于环芯光纤光斑的熔接偏移量的检测方法。利用环芯光纤稳定、形态结构区分度高的光纤光斑，对在不同错位熔接偏移量下采集到的光斑进行高精度卷积神经网络的光斑识别训练，打破了现有的仅利用少模光纤高阶模式的背向瑞利散射对光纤熔接损耗的测量的局限，实现了对熔接过程中光纤偏移量的测量，提高了熔接质量检测的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光纤 光斑 熔接 偏移 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中山大学，未经中山大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210211105.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
