[发明专利]基于级数反演的圆迹SAR成像方法、系统、介质及设备在审
申请号: | 202210225005.9 | 申请日: | 2022-03-09 |
公开(公告)号: | CN114660600A | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | 邢涛;胡庆荣;李军;冯亮 | 申请(专利权)人: | 北京无线电测量研究所 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 何佩英 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及雷达成像领域,尤其涉及基于级数反演的圆迹SAR成像方法、系统、介质及设备。该方法包括:包括:步骤1,获取目标地面区域的位置信息,基于所述位置信息建立圆迹成像几何模型;步骤2,基于所述圆迹成像几何模型,对雷达与目标点之间的斜距表达式进行距离脉压处理,得到距离频域与方位时域信号的第一表达式;步骤3,对所述表达式进行级数反演处理,基于处理结果得到圆迹SAR的成像影像。通过该方法可以达到减少运算量的效果。 | ||
搜索关键词: | 基于 级数 反演 sar 成像 方法 系统 介质 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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