[发明专利]存储芯片的测试方法、装置、存储介质与电子设备在审
| 申请号： | 202210237604.2 | 申请日： | 2022-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN116779015A | 公开（公告）日： | 2023-09-19 |
| 发明（设计）人： | 汪净 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/26 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王辉 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本公开提供了一种存储芯片的测试方法、存储芯片的测试装置、计算机可读存储介质与电子设备，属于半导体技术领域。所述方法包括：确定多核处理器中各核心对应的存储块，所述存储块为由存储芯片中部分存储单元构成的局部存储区域；通过所述多核处理器中的各所述核心对相应的存储块进行读写测试，并依据测试得到的各存储块的测试结果确定所述存储芯片的测试结果。本公开可以提高多核处理器的利用率，提高存储芯片的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 芯片 测试 方法 装置 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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