[发明专利]加速寿命测试实验金手指插拔结构的高密度排布老化板在审
申请号: | 202210243540.7 | 申请日: | 2022-03-12 |
公开(公告)号: | CN114839401A | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 张帆 | 申请(专利权)人: | 江苏宝浦莱半导体有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/36;G01R31/00 |
代理公司: | 北京华际知识产权代理有限公司 11676 | 代理人: | 王战 |
地址: | 223700 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及强加速应力测试机领域,且公开了加速寿命测试实验金手指插拔结构的高密度排布老化板,包括母板以及子板,所述母板的一侧设置有插接端,所述母板的表面设置有十组插槽,每组插槽通过保险丝连接插接端,在强加速应力测试机原有的接线柱上设计用于连接母板金手指的插槽,便于母板载具的连接。 | ||
搜索关键词: | 加速 寿命 测试 实验 手指 结构 高密度 排布 老化 | ||
【主权项】:
暂无信息
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