[发明专利]一种用于中子衍射谱仪的径向准直器在审
申请号: | 202210247433.1 | 申请日: | 2022-03-14 |
公开(公告)号: | CN114649105A | 公开(公告)日: | 2022-06-21 |
发明(设计)人: | 杜文婷;胡春明 | 申请(专利权)人: | 散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | G21K1/02 | 分类号: | G21K1/02;G01N23/20016 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 孙婧;彭家恩 |
地址: | 523808 广东省东莞*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种用于中子衍射谱仪的径向准直器,包括准直器框架、吸收膜和间隔条,准直器框架为方形喇叭状,且前后端面均为圆柱面,前后端面的轴线重合,吸收膜为梯形薄膜且材料为强中子吸收材料,间隔条为长条形变厚度薄板,若干吸收膜和间隔条交替堆叠设于准直器框架内。在方形喇叭状准直器框架内设置吸收膜和间隔条,准直器的覆盖范围包括探测器的覆盖范围,准直器设置在中子衍射谱仪的样品中心点与探测器之间,相较于未设置径向准直器,谱仪实验的本底噪声大大降低,数据精度和谱仪分辨率显著提高。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 中子 衍射 径向 准直器 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所,未经散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210247433.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。